PDS-SWIII型非金屬超聲波檢測(cè)儀簡(jiǎn)介
PDS-SWIII超聲波檢測(cè)儀是基于AT070TN83上開(kāi)發(fā)的新型超聲波測(cè)試儀器,該機(jī)采用10寸LED背光觸摸液晶顯示屏并以WindowsCE為工作平臺(tái)操作簡(jiǎn)單便捷??梢愿鶕?jù)個(gè)人喜好選擇按鍵或者手觸兩種方式操作。該聲波檢測(cè)儀具有高分辨、高增益、高靈敏、高精度、線性好、低功耗等優(yōu)點(diǎn),PDS-SWIII型非金屬超聲波檢測(cè)儀可廣泛應(yīng)用于:
·透射法:
1、平面超聲波測(cè)試: 完整性,缺陷、強(qiáng)度、力學(xué)參數(shù)測(cè)試。
2、錘擊平面聲波測(cè)試:完整性,缺陷,強(qiáng)度,力學(xué)測(cè)試。
3、孔中聲波測(cè)試:巖體強(qiáng)度化分,基樁完整性檢測(cè)。
4、孔中錘擊測(cè)試: 巖體橫波聲速分層,彈性力學(xué)參數(shù)測(cè)試。
5、孔中聲CT層析成像: 巖體軟弱結(jié)構(gòu)面,溶洞檢測(cè)折射法。
·PDS-SWIII型非金屬超聲波檢測(cè)儀折射法:
1、平面超聲波測(cè)試: 砼損傷層檢測(cè)。
2、平面超聲波測(cè)試:巖體松動(dòng)范圍檢測(cè)。
3、一發(fā)雙收單孔檢測(cè):巖體風(fēng)化殼、軟弱結(jié)構(gòu)面劃分。
4、孔中彈性波測(cè)試: 縱、橫波聲速地層分層評(píng)價(jià),彈性力學(xué)參數(shù)測(cè)試。
·PDS-SWIII型非金屬超聲波檢測(cè)儀反射法:
1、平面超聲波測(cè)試:砼路面厚度測(cè)試。
2、錘擊反射波法:砼厚度及缺陷檢測(cè)。
PDS-SWIII型非金屬超聲波檢測(cè)儀技術(shù)參數(shù)
儀器名稱 |
PDS-SWIII型非金屬超聲波檢測(cè)儀 |
采樣間隔 |
0.1us~50ms |
采樣通道 |
3個(gè)獨(dú)立通道,一次完成3個(gè)剖面 |
測(cè)讀方式 |
手動(dòng)游表、自動(dòng)尋找首波的聲時(shí)與聲幅 |
測(cè)讀參數(shù) |
聲時(shí)與聲幅二維參數(shù) |
發(fā)射方式與頻率 |
單次發(fā)射和連續(xù)發(fā)射,>10次/秒 |
發(fā)射電壓 |
發(fā)射電壓500V/1000V;發(fā)射脈寬1us~1000us;數(shù)字調(diào)節(jié) |
換能器標(biāo)稱頻率 |
10K;25K;50K;100K;250K;500KHz |
放大器帶寬 |
1K ~ 500kHz |
接收靈敏度 |
>=10uv |
顯示方式 |
10寸寬屏TFT液晶顯示器 |
數(shù)據(jù)輸出 |
專用PDS文件格式 |
掃描寬度 |
采樣長(zhǎng)度 * 采樣間隔 =102.4us~51.2s |
掃描延時(shí) |
延遲點(diǎn)數(shù) * 采樣間隔 = 0us ~ 500s |
游標(biāo)定義 |
2個(gè)游標(biāo) |
測(cè)量穩(wěn)定性 |
通過(guò)國(guó)家計(jì)量認(rèn)證 |
使用環(huán)境 |
工作溫度:-20℃~+60℃,相對(duì)濕度:0~95%RH |
供電能力 |
AC:200~240V,DC:5~8.4V;鋰電池組供電時(shí)間>6小時(shí) |
尺寸重量 |
280×160×40mm,儀器自重1.8KG |
PDS-SWIII型非金屬超聲波檢測(cè)儀計(jì)算機(jī)系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)
芯片組 |
CortexTM-A8 |
主頻 |
1GHz |
內(nèi)存 |
1G |
顯示 |
10寸寬屏TFT液晶顯示器 |
FLASH |
1G |
總線界面 |
觸摸屏 |
接口 |
USB RS232 以太網(wǎng) |
數(shù)據(jù)存儲(chǔ) |
2G – 16G SD卡 |
電池容量 |
5.2AH |
操作系統(tǒng) |
Windows CE 6.0 |
工作溫度 |
-20℃~+60℃ |
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